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美国Calmetrics XRF镀层测厚仪标准片Au/Pd/Ni/Cu
作者:管理员    发布于:2022-07-12 07:53:33    文字:【】【】【
摘要:铜镀镍标准片美国CalMetics XRF镀层测厚仪标准片CALM-CR80CU999,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品牌Fischer、xford(CMI)、Thermo、Veeco、MicroPioneerXRF-2000、SeikoSII等,国产天瑞)

美国calmetrics X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片 

  calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司,其专门为仪器大厂如Fischer(菲希尔)Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本电测)Thermo(热电)、VeecoMicro Pioneer等生产制作标准样品。

应用:适用于Fischer(菲希尔)Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本电测)Thermo(热电)、VeecoMicro PioneerSeiko等各厂牌X-ray测厚仪(膜厚计) 

产品规格:

银标片编号

规格说明

SILVER (Ag)

 英制单位 

 公制单位

SAG4

4m

0.10mm

SAG10

10m

0.25mm

SAG40

40m

1.00mm

SAG80

80m

2.00mm

SAG200

200m

5.00mm

SAG400

400m

10.0mm

SAG800

800m

20.0mm

SAG1200

1200m

30.0mm

 

特色:标准片A2LA校正认证,质量精良,精度高、稳定性好;

   测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片,双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如:单镀层:Ag/xx,双镀层:Au/Ni/xx, 三镀层:Au/Pd/Ni/xx,合金镀层:Sn-Pb/xx, 化学镀层:Ni-P/xx。(所有标准片都附有NIST证书),美国Calmetrics公司是专业生产X射线荧光金属镀层测厚仪标准片及RoHS标准片,以及对标准片进行重新鉴定,其所有证书都是符合NISTNational Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院)标准或ANSIAmerican National Standards Institute美国国家标准学会)标准。

     所有标准片都附有NIST认证证书我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片,并附有标准片厚度值证书.

相关产品:膜厚仪厚度测试标准片 , 测厚仪厚度测试标准片 , 美国标准片 , Calmetrics标准片

 

美国Calmetrics公司生产X射线荧光镀层薄膜标准件及元素含量标准件,提供对标准件的校准服务,公司通过ISO/IEC 17025认证。公司提供所有证书符合NISTNational Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院)标准或ANSIAmerican National Standards Institute美国国家标准学会)标准。其生产的标准片质量精良,精度高、稳定性好。

Calmetrics镀层标准片适用于费希尔Fischer、韩国ISP、日立Hitachi(包括:牛津仪器OxfordCMI)、精工Seiko)热电ThermoVeeco、微Micro Pioneer、岛津、电测、纳优、天瑞、华唯等各厂牌的测厚仪。

X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片,双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。如:单镀层:Au/xx,双镀层:Au/Ni/xx,三镀层:Au/Pd/Ni/xx,合金镀层:Sn-Pb/xx,合金镀层:Ni-P/xx

镀层标准片适用于X射线类仪器的标准。市面上绝大多部分的手持式荧光仪的厚度标准件都来自于美国Calmetrics公司。

X射线标准片又叫膜厚仪校准片或者薄膜片,用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。

 

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片:

用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线,之后以此标准曲线来测量未知样品,以得到镀层厚度或组成比率。

对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

UPACalMetics一系列标准片,标准片通过A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)认证,UPA是美国原厂制作标准片的专业认证公司,其专门为X射线测厚仪大厂如德国费希尔Fischer、英国牛津OxfordCMI)、美国热电Thermo、美国Veeco、韩国Micro Pioneer、日本精工Seiko等生产制作标准样品。

UPACalmetrics镀层标准片适用于FischerOxfordCMIThermoVeecoMicro PioneerSeiko等各厂牌X-rayX射线测厚仪)、 β-ray(β射线测厚仪)、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。 

特色:标准片A2LA校正认证,质量精良,精度高、稳定性好

     X-Ray、β-Ray、磁感式、涡电流式专用标准片

X射线测厚仪标准片一般分为单镀层片,双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如:单镀层:Ag/xx,双镀层:Au/Ni/xx, 三镀层:Au/Pd/Ni/xx,合金镀层:Sn-Pb/xx, 化学镀层:Ni-P/xx。(所有标准片都附有NIST证书)

 

美国calmetrics XRF镀层测厚仪标准片台式/手持荧光测厚仪标准片Au/Pd/Ni/Cu

 

美国calmetrics XRF镀层测厚仪标准片台式/手持荧光测厚仪标准片Au/Pd/Ni/Cu

铜镀镍标准片美国CalMetics XRF镀层测厚仪标准片CALM-CR80CU999,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品牌FischerxfordCMI)、ThermoVeecoMicroPioneerXRF-2000SeikoSII,国产天瑞)

  1. 薄膜片,单层测量品种:镍(Ni);铬(Cr);铜(Cu);锌(Zn);Cd4);锡(Sn);银(Ag);金(Au;(Pd)等,其它镀层可定制.
  2.   2. 镀层标准片:双镀层:Au/Ni/xx, 三镀层:Au/Pd/Ni/xx.

  3. 合金标准片:合金镀层测量:Sn-PbCu-ZnZn-Ni Ni-P .

  4. 测量厚度范围:0.01-300μm.(特别厚度可订做).

  5. 我们还有ROHS标准片,标准物件.

  6. 涂层测厚仪塑料标准片等.

  7. 电解测厚仪标准片/库仑测厚仪标准片

  客户在联系我的时候请了解清楚自己所需要使用的元素及厚度,以便我们更好的沟通与合作,谢谢


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